2010年01月10日 瀏覽次數(shù): 0
2010年1月8日上午9點,ITCS圖性質(zhì)測試研討會(ITCSmini-workshop on Property Test)在清華大學FIT樓1區(qū)315召開。理論計算機科學研究中心副主任王躍宣教授主持了研討會開幕式。
王躍宣教授主持開幕式
圖性質(zhì)測試與PCPs、密碼學理論等領域緊密關聯(lián),在過去幾十年里得到了廣泛的關注與研究。此次研討會為期三天,旨在為世界該領域的著名研究人員提供一個相互交流、促進研究的平臺。
Oded Goldreich教授致開幕辭
著名密碼學專家、以色列魏茲曼科學研究院的計算機科學教授Oded Goldreich在開幕式上致辭,對中心舉辦此次研討會、提供一次領域內(nèi)切磋討論的機會表示感謝。
研討會現(xiàn)場
簡短的開幕式過后,與會人員共同合影留念。
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